Лаборатория аналитических методов исследования вещества

Лаборатория аналитических методов исследования вещества (АМИВ) была организована 23 октября 2000 года на базе сектора плазменных технологий лаборатории физики магнитных явлений. Со дня основания и по настоящее время (2013 год), заведующим лабораторией является доктор технических наук, профессор Григорий Николаевич Чурилов. Основные направления научных исследований лаборатории связаны с разработкой плазмохимических реакторов, проведением синтеза и исследованием полученных наноразмерных и наноструктурированных материалов, а также с исследованием плазмы, находящейся под воздействием электромагнитных полей.

В истории известно противостояние двух великих исследователей: Эдисона и Тесла. Практически все приборы Эдисона работают на постоянном токе, исключая электрический стул, а все приборы Тесла на переменном токе.

На рисунке мы можем видеть один из первых ВЧ мощных усилителей (20 кВт) на транзисторах с плавной перестройкой частоты, в диапазоне от 44 до 440 кГц. Применение этого усилителя позволило впервые в мире получить нанодисперсный углерод, состоящий из фуллеренов и нанотрубок, в потоке углеродно-гелиевой плазмы при атмосферном давлении. В настоящее время этот метод является самым экономически выгодным методом получения фуллеренов и защищен российским патентом. Метод не требует ни вакуумизации, ни низкого давления гелия в камере. Также применение ВЧ тока позволило осуществить дуговой разряд в потоке аргона диаметром всего 1,5 мм. На основе этого разряда разработан источник света для спектрального анализа. Источник света защищен российским патентом и является основным узлом установки для анализа порошковых и монолитных образцов.

Установка для получения фулеренов и нанотрубок, фото 2007 г. На рис. 1 приведена фотография установки для получения фуллеренов и нанотрубок.

Применение ВЧ тока позволило осуществить дуговой разряд в потоке аргона диаметром всего 1,5 мм. На основе этого разряда разработан источник света для спектрального анализа. Источник света защищен российским патентом и является основным узлом установки для анализа порошковых и монолитных образцов, фото 2005 г. На рис. 2 приведена фотография установки для спектрального анализа.